膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片用于測厚儀在測金屬鍍層厚度的時(shí)候進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)，這樣使用使得測厚儀所測的誤差值變小，對于半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)，電鍍行業(yè)使用測厚儀所造成的成本檢測起到了很重要的作用。標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。接下來和奧譜瑪一起了解。

　　膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片的兩大作用：

　　1、用來對膜厚儀工作狀態(tài)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性進(jìn)行校驗(yàn)。在膜厚儀測試過程中對膜厚儀運(yùn)行過程中，確認(rèn)工作狀態(tài)。防止膜厚儀故障狀態(tài)時(shí)能時(shí)間確認(rèn)。

　　2、用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

　　膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片的使用和選擇：

　　厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度，然后通過軟件達(dá)到對儀器的校正。

　　可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

　　膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片在使用時(shí)選擇適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)厚度塊對儀器進(jìn)行示值校正，選擇一塊合適和一塊為儀器測量上限1/2的標(biāo)準(zhǔn)厚度塊作儀器高低兩端的示值校正。測量范圍分為若干檔的儀器，其示值校正應(yīng)在每檔分別進(jìn)行。

　　以上就是奧譜瑪整理分享的關(guān)于膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片作用及使用說明。希望可以幫到你們，想了解更多相關(guān)產(chǎn)品資訊，歡迎持續(xù)關(guān)注。